干法激光粒度儀采用的成型技術(shù)，使儀器結(jié)構(gòu)緊湊合理，結(jié)構(gòu)美觀，使用維修方便；采用微納抗干擾技術(shù)，使儀器的電氣穩(wěn)定性更好，故障率更低。那么，為什么在使用過程中數(shù)據(jù)會漂移呢？

　　干法激光粒度儀鏡頭和測試窗玻璃污染：光學(xué)儀器的鏡頭污染是常見的故障。作為粉末測試設(shè)備，激光粒度分析儀經(jīng)常面對多塵的環(huán)境，而測試窗透鏡是直接接觸粉末樣品的光學(xué)設(shè)備。在使用環(huán)境中，諸如聚焦透鏡或準直透鏡之類的光學(xué)透鏡被浮塵或模具污染所污染，這將在純測量光束中產(chǎn)生雜散光。這些雜散光將混入樣品的散射光中，從而干擾測試。測量窗玻璃上的污染物將直接產(chǎn)生強散射光。因此，光學(xué)鏡片的污染是造成激光粒度分析儀測試結(jié)果漂移的主要原因。主要解決方案是將儀器保持在干燥，無塵的工作環(huán)境中。請按照操作步驟經(jīng)常清潔鏡片，以確保光學(xué)鏡片的清潔度。
 

　　激光光路偏離：激光是生熱設(shè)備。在工作周期中，它們將反復(fù)加熱-冷卻-加熱。任何物體都會隨著熱量而膨脹和收縮，其幾何尺寸也會隨溫度而變化，光路裝配精度非常高。隨著儀器使用壽命的延長，光路幾乎不可避免地會偏移。光路的偏離將導(dǎo)致測量光束的光能的衰減和檢測器布置角度的漂移，這將導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)的漂移。解決此問題的方法主要取決于儀器，以使光路偏離儀器設(shè)計的可能性降低，并且定期校準光路也非常重要。

　　采樣系統(tǒng)的周期和色散效率波動導(dǎo)致干法激光粒度儀的數(shù)據(jù)漂移相對隱蔽，因此很容易被忽略。樣品循環(huán)系統(tǒng)中使用的介質(zhì)的特性，介質(zhì)的流量，超聲分散設(shè)備的運行條件以及泵的速度會顯著影響測試數(shù)據(jù)并需要仔細注意。

　　光電探測器及其放大器電路參數(shù)漂移：這種問題應(yīng)屬于儀器制造的質(zhì)量水平。一般來說，任何電子電路和光電探測器都存在工作條件漂移的問題。區(qū)別僅在于漂移量。儀器的用戶通常無法解決此類問題，儀器需要校準儀器的電路工作條件系數(shù)。一些儀器可以校準其自身電路的漂移。

　　測量參數(shù)和測量條件的變化：分析模型，樣品測量參數(shù)和測試環(huán)境（例如濕度，測試介質(zhì)溫度等）可能會影響測試數(shù)據(jù)。我們必須首先確保正確選擇測試分析模型和樣品測量參數(shù)（尤其是樣品折射率）。根據(jù)不同樣品和儀器的工作環(huán)境，測試環(huán)境的影響差異很大。