PICTOS的特點(diǎn)
*從5微米到3500微米顆粒的粒度和粒形同時(shí)分析
*適合同現(xiàn)有的取樣系統(tǒng)結(jié)合，如代表性取樣系統(tǒng)TWISTER， 單探針式取樣系統(tǒng)或者是混樣器。
*有效的分散取代了原來需要通過軟件來修正圖形邊界的問題，測試結(jié)果更。
*得到高速顆粒流的準(zhǔn)靜態(tài)圖像
*清晰的圖像邊界，顆粒的大小和清晰度同顆粒在測試區(qū)域的位置無關(guān)(無景深)
*以黑色輪廓清楚地顯示顆粒的邊界，實(shí)現(xiàn)對全透明顆粒的檢測
*短時(shí)間內(nèi)得到顆粒的清晰圖像，測試結(jié)果的統(tǒng)計(jì)性好
*用戶自定義數(shù)據(jù)分級(jí)功能滿足用戶對數(shù)據(jù)細(xì)分高達(dá)30000級(jí)，對分布曲線上的任何一個(gè)分級(jí)點(diǎn)無限制。
預(yù)定義的分級(jí)數(shù)據(jù)已儲(chǔ)存于軟件中，包括HELOS系列數(shù)據(jù)等級(jí)、篩分分級(jí)點(diǎn)等等
*的計(jì)算模式可供選擇
測試完畢后可以重新選擇模式進(jìn)行計(jì)算和數(shù)據(jù)處理：
粒度分析：等效投影圓面積徑，F(xiàn)eret徑等等
粒形分析：球形度、長細(xì)比和不規(guī)則度
纖維分析：纖維長度、纖維粒徑、彎曲系數(shù)和復(fù)雜結(jié)構(gòu)的分析
顆粒圖形庫：根據(jù)篩選條件顯示并打印出用戶挑選出的特定顆粒，追溯顆粒原始運(yùn)動(dòng)情況，如篩選球形顆粒所占的比例等
用戶自定義分析：提供基于滿足用戶所定義和要求的粒度粒形分析。
*PICTOS符合21 CFR Rule 11的電子文檔和電子簽名的安全性要求。
